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BeVisionシリーズのご紹介

 

BeVisionシリーズは、画像解析技術を用いた粒子径・粒子形状解析装置です。粒子を直接撮影・解析することで、粒子径分布だけでなく、粒子形状に関する詳細な情報を取得できます。BeVisionシリーズには、用途や測定対象に応じた3つのモデルをラインアップしています。

  • BeVision D3
    乾式・流動性のある粉体や粒状材料を対象とした動的画像解析法(DIA:Dynamic Image Analysis)による粒子径・粒子形状解析装置です。移動中の粒子をリアルタイムで撮影し、幅広い粒子径範囲における粒度分布および形状評価に対応します。
  • BeVision M1
    自動静的画像解析式粒子評価装置です。微細粒子や異物粒子の観察・解析に適しています。
  • BeVision S1
    従来型の静的画像解析法を採用した粒子画像解析装置です。個々の粒子画像をもとに、粒子径および粒子形状の詳細評価を行います。

粒子径・粒子形状解析装置

Bevision-S1 Classical and Versatile Static Image Analyzer

BeVision S1

クラシックな粒子画像分析装置

乾式および湿式測定対応

測定範囲:0.3〜4,500μm

測定原理:静的画像解析

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BeVision M1

BeVision M1

自動粒子径・粒子形状解析装置

乾式測定に対応

測定範囲:0.3 - 10,000μm

静的画像解析法

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BeVision D3 Series

粒子形状解析装置

分散方式: 乾式

測定範囲: 0.5 μm~26 mm

測定技術: 動的画像解析法(Dynamic Image Analysis)

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