BeVision D3シリーズは、動的画像解析法（DIA：Dynamic Image Analysis）を採用した、全自動の粒子径・粒子形状解析装置です。高精度な粒子径測定と形状評価を実現し、研究開発から品質管理まで、幅広い分野でご利用いただけます。
機能と利点
- ● 幅広い測定範囲：0.5 μm～26 mmの広範囲な粒子径測定に対応
- ● 粒子径・形状評価：37種類以上の解析項目により、粒子サイズや形状特性を詳細に解析
- ● ふるい分け試験との高い相関性：画像解析による測定結果は、ふるい分け分析結果との比較評価にも対応
- ● 標準化測定手順：自動化された測定フローにより、作業者による測定ばらつきを低減
- ● 国際規格に準拠：ISO 13322-2およびISO 9276に準拠した測定・評価に対応
- ● 簡単操作・高い作業効率：全自動測定により、専門知識がなくても安定した測定が可能
- ● 短時間測定：一般的な測定時間は約3分で、効率的な粒子評価を実現
- ● メンテナンス負荷を低減：シンプルで安定した構造により、長期的な安定運用が可能
- ● 特殊な粒子形状評価にも対応：混合粉体の解析、扁平粒子の厚み評価、長粒子の長さ・幅測定など、さまざまな用途に対応
- ● 高い測定精度と信頼性：NIST標準試料による性能確認を実施
- ● 高分解能測定：微細な粒度変化や粒子径分布の違いを高精度に検出
- ● 粗大粒子・微小粒子を検出：規格外粒子や異常粒子の管理にも対応
