BeVision D3シリーズは、動的画像解析法（DIA）を用いた全自動粒子径・形状解析装置です。粒子を個別に画像解析することで、粒子径分布および形状特性を高精度に評価し、研究開発から品質管理まで幅広く対応します。
機能と利点
- ● 幅広い測定範囲：0.5 μm～26 mmの広範囲な粒子径測定に対応
- ● 多彩な粒子径・形状評価：37種類以上の粒子径および形状パラメータを取得可能
- ● 高速測定：標準約3分の測定時間による効率的な粒子評価
- ● 高分解能解析：狭い粒子径分布における微細な違いを高精度に評価
- ● 規格対応：ISO 13322-2およびISO 9276に準拠した画像解析
- ● 全自動測定：測定から解析までの自動化による安定した評価結果
- ● 高機能解析ソフトウェア：粒子径・形状情報を総合的に解析
- ● ふるい分析との比較性：画像解析結果とふるい分け分析結果との比較評価が可能
