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ご紹介

 

動的画像解析法(DIA:Dynamic Image Analysis)は、粒子を1個ずつ撮影・解析することで、粒子径および粒子形状パラメータを高精度に取得できる評価技術です。粒子径分布だけでなく、粒子形状を詳細に解析できるため、粉体や粒状材料の特性評価に有効な手法です。動的画像解析法では流動中の粒子を連続的に撮影し、取得した画像から粒子径および形状情報を解析します。移動中の粒子を直接評価することで、分散状態にある粒子、自由落下する粒子、さらに凝集しやすい粒子についても、より実際の状態に近い粒子特性評価が可能になります。

粒子径・形状分析装置

Bettersizer S3 Plus

Bettersizer S3 Plus

粒子径・粒子形状分析装置

測定範囲:0.01~3,500μm(レーザ回折・散乱法)

測定範囲:2~3,500μm(動的画像解析法)

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Bettersizer 2600 Plus

粒子径・粒子形状分析装置

測定範囲:0.02~2,600 µm(湿式分散)

測定範囲:0.1~2,600 µm(乾式分散)

動的画像解析範囲:2~3,500 µm

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BeVision D3 Series

粒子形状解析装置

分散方式: 乾式

測定範囲: 0.5 μm~26 mm

測定技術: 動的画像解析法(Dynamic Image Analysis)

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静的画像解析法(SIA)は、限られた粒子を高解像度で詳細に観察できる一方、動的画像解析法(DIA)は、流動中の多数の粒子を連続的に撮影・解析することで、短時間で効率的な粒子評価を実現します。そのため、DIAは粗大粒子の検出、粒子径分布測定、粒子形状解析に適しており、以下の特長を備えています。

 

1. 簡単な操作性と優れた再現性

2. 粗大粒子の高感度検出

3. 高速・効率的な測定

4. 高い試料処理能力

5. 高精度で信頼性の高い評価

測定原理

 

動的画像解析法では、流動中の粒子を撮影し、画像処理および解析を行うことで、粒子径および粒子形状を評価します。測定は以下の4つのステップで行われます。

 

1. 粒子画像の撮影

専用のデジタルカメラにより、移動中の粒子を高倍率かつ鮮明に撮影します。高速撮影によりモーションブラー(動きによる画像のぼやけ)を抑制し、粒子輪郭を正確に取得します。粒子は流動状態で測定され、乾式および湿式の分散条件に対応します。また、測定中に粒子の分散状態を制御することで、凝集粒子の影響を低減できます。

 

2. 画像処理および粒子認識

取得した粒子画像は専用ソフトウェアにより処理されます。画像の明るさ補正、ノイズ除去、孤立画素の除去、粒子輪郭の抽出などを行い、重なり合った粒子や凝集粒子を識別・分離します。

 

3. 粒子径・粒子形状パラメータの算出

画像解析により、個々の粒子について粒子径および粒子形状パラメータを自動計算します。粒子1個ごとの詳細な情報を取得することで、粒子集団の特性を高精度に評価できます。

 

4. データ統計処理および分類

取得した粒子径・粒子形状データを統計処理し、粒子分布や特徴に基づいて分類・評価します。

ガイドブック

 

粒子形状解析に用いる各パラメータの詳細については、こちらをご参照ください。

 

Image analysis, particle parameters guidebook