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  • ● 粒子径と粒度分布とは?
  • ● 粒子径測定の重要性
  • ● レーザ回折・散乱式 粒子径分布測定装置
  • ● 動的光散乱法 粒子径・ゼータ電位分析装置
  • ● 画像解析法 粒子径・粒子形状分析装置

粒子径と粒子径分布とは?
 

粒子の大きさは、一般的に mm(ミリメートル)、μm(マイクロメートル)、nm(ナノメートル) などの単位で表されます。粒子の大きさを表す代表的な指標として、粒子径が広く使用されています。粉体や粒子集合体では、すべての粒子が同じ大きさではなく、さまざまな粒子径の粒子が存在します。このような粒子径の分布状態を粒子径分布(Particle Size Distribution:PSD) と呼びます。例えば、小麦粉や砂のような粉体材料では、微細な粒子から粗大な粒子まで異なるサイズの粒子が含まれており、粒子径分布によって材料の特性を評価することができます。粒子径分布は、特定の粒子径または一定の粒子径範囲に存在する粒子の割合(%)として表されます。粒子径と粒子径分布は、粉体・粒子材料の基本特性を評価する上で重要な測定項目です。

 

粒子径分布測定にはさまざまな測定方式がありますが、レーザー回折・散乱法(Laser Diffraction Method) は、現在最も広く利用されている粒度分布測定技術の一つです。レーザー回折式粒子径分布測定装置では、粒子にレーザー光を照射し、粒子によって生じる散乱光パターンを解析することで、粒子径分布を測定します。レーザー回折・散乱法による測定結果は、粒子の体積割合を基準とした 体積基準粒度分布(Volume Distribution) として表示されます。

 

広い粒子径範囲を短時間で測定できるレーザー回折式粒子径分布測定装置は、粉体材料、セラミックス、電池材料、医薬品、化学材料、食品など、幅広い分野で粒子径評価に利用されています。Bettersize Instrumentsは、粒子径測定装置の専門メーカーとして、さまざまな産業分野に向けた粒子解析ソリューションを提供しています。品質管理から研究開発まで、多様な測定ニーズに対応するため、レーザー回折・散乱法、画像解析法、ナノ粒子測定技術など、用途に応じた測定装置と分析手法を提供しています。粉体・粒子材料の 粒子径、粒度分布、粒子形状 などの評価を通じて、製品開発の効率化、品質向上、製造工程の最適化をサポートします。

粒子径測定の重要性

 

粒子径測定は、粉体材料の製造、利用および研究開発において、基本的かつ重要な評価プロセスです。粒子径は、水添加後のセメントの水和反応時間、塗料やコーティング材料の密着性および被覆性、リチウムイオン電池の容量、医薬品の溶解・分解速度、ろ過効率、磁性材料の透磁率や保磁力、農薬の効果や残留性、大気環境や環境汚染など、さまざまな特性に大きく影響します。このように、粒子径は材料性能や製品品質を左右する重要なパラメータであり、粒子径測定装置は多くの分野で活用され、研究開発から製造工程、品質管理まで幅広いユーザーに利用されています。

レーザ回折・散乱式 粒子径分布測定装置

Bettersizer ST

Bettersizer ST

品質管理向け一体型モデル

湿式分散

測定範囲:0.1〜1,000μm

再現性誤差:≤1%

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Bettersizer 2600

Bettersizer 2600

あらゆるニーズに応える粒子解析装置

測定範囲:0.02~2,600μm(湿式分散)

測定範囲:0.1~2,600μm(乾式分散)

測定範囲:2~3,500 μm(動的画像解析)

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Bettersizer S3 Plus

Bettersizer S3 Plus

粒子径・粒子形状分析装置

測定範囲:0.01~3,500μm(レーザ回折・散乱法)

測定範囲:2~3,500μm(動的画像解析法)

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Bettersizer 2600 Plus

粒子径・粒子形状分析装置

測定範囲:0.02~2,600 µm(湿式分散)

測定範囲:0.1~2,600 µm(乾式分散)

動的画像解析範囲:2~3,500 µm

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DeepSizer 300

DeepSizer 300

水中堆積物解析のための必携ツール

粒子径測定範囲:0.1 – 2000 μm

濃度測定範囲:0.001 – 100 g/L

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動的光散乱法 粒子径・ゼータ電位分析装置

画像解析法 粒子径・粒子形状分析装置

Bevision-S1 Classical and Versatile Static Image Analyzer

BeVision S1

クラシックな粒子画像分析装置

乾式および湿式測定対応

測定範囲:0.3〜4,500μm

測定原理:静的画像解析

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BeVision M1

BeVision M1

自動粒子径・粒子形状解析装置

乾式測定に対応

測定範囲:0.3 - 10,000μm

静的画像解析法

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Bettersizer 2600 Plus

粒子径・粒子形状分析装置

測定範囲:0.02~2,600 µm(湿式分散)

測定範囲:0.1~2,600 µm(乾式分散)

動的画像解析範囲:2~3,500 µm

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Bettersizer S3 Plus

Bettersizer S3 Plus

粒子径・粒子形状分析装置

測定範囲:0.01~3,500μm(レーザ回折・散乱法)

測定範囲:2~3,500μm(動的画像解析法)

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BeVision D3 Series

粒子形状解析装置

分散方式: 乾式

測定範囲: 0.5 μm~26 mm

測定技術: 動的画像解析法(Dynamic Image Analysis)

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