レーザー回折法と動的画像解析の融合による研磨材の特性評価向上
粒径だけで研磨材の均一性を保証することは難しく、研磨材業界では粒子の形状も重要な品質管理項目として認識されています。Bettersizer S3 Plusは、レーザー回折法と動的画像解析を組み合わせることで、粒径と形状を同時に測定し、従来のレーザー回折装置以上の詳細な情報を提供いたします。
使用機種:Bettersizer S3 Plus
業界:研磨材
測定対象:コランダム
測定項目:粒径・粒子形状
測定技術:レーザー回折法、動的画像解析
目次
はじめに
研磨材の特性
測定技術の概要
粒径と形状の包括的評価
微細粉末中の過大粒子検出
まとめ
はじめに
研磨材と...
レーザー回折法による石膏粉末の粒子径分布測定
石膏は、建築材料や工業材料として広く使用されており、その凝結時間や圧縮強度、密度といった性能は、粒子径分布に大きく依存します。
本アプリケーションノートでは、品質管理に特化したレーザー回折式粒子径分布測定装置「Bettersizer ST」を用いて、2種類の石膏サンプルの粒子径分布を評価しました。
測定は迅速かつ正確に行われ、さらに粉砕済み試料を用いた繰り返し測定では高い再現性が得られました。この結果は、Bettersizer ST が品質管理用途において優れた信頼性と安定性を備えていることを示しています。
製品名: Bettersizer ST
対応業界: 鉱業・鉱物
測定対象: 石...
静的光散乱法によるBeNano 90 Zetaを用いた分子量測定
本アプリケーションノートでは、ポリマー標準物質を用いて重量平均分子量を測定し、Debyeプロットにより求められた結果を報告します。測定値は文献値と非常に近く、一致しており、BeNano 90 Zetaがタンパク質などの分子量評価において信頼性の高い有効なツールであることを示しています。
製品名: BeNanoシリーズ
業界分野: 化学
サンプル: ポリマー標準物質
測定項目: 分子量
測定技術: 静的光散乱(SLS)
...