セラミック粉末におけるレーザー回折・散乱式粒子径分布測定装置の応用
現代のセラミック部品製造において、セラミック粉末の粒子径分布を正確に把握することは極めて重要です。Bettersizer 2600は、セラミック粉末の粒子径を高精度かつ高再現性で評価できる装置として有効であることが実証されています。
使用製品
Bettersizer 2600(レーザー回折・散乱式粒子径分布測定装置)
産業分野
セラミック
測定対象サンプル
セラミック粉末
測定項目
粒子径
測定技術
レーザー回折
はじめに
現代のセラミック部品製造プロセスは、大きく分けて以下の2段階で構成されます。
セラミック粉末を液体中に均一分散させ、適切な配合比でスラ...
レーザー回折法によるSi/C複合負極材料の粒子径分布解析
次世代のリチウムイオン電池において、シリコン/カーボン(Si/C)複合負極は、その高い理論容量から大きな注目を集めています。本アプリケーションノートでは、エネルギー密度の最大化を目的とし、Si/C負極材料のタップ密度や比表面積に大きな影響を与える粒子径分布を評価します。Bettersizer 2600とBT-80N耐腐食型湿式分散ユニットを組み合わせることで、有機溶剤中における高精度かつ高再現性の粒子径測定が可能です。
測定装置
Bettersizer 2600(レーザー回折式粒子径分布測定装置)
産業分野
電池材料
サンプル
Si/C複合負極材(リチウムイオン電池用)
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アルミナ研磨材の粒径およびゼータ電位の測定
アルミナの分散安定性と粒径特性は、研磨性能や加工品質に大きく影響します。本アプリケーションノートでは、BeNano 90 Zeta を用いて、水系分散下におけるナノアルミナの粒径およびゼータ電位を高精度に評価した事例をご紹介します。
製品情報
BeNano シリーズ ナノ粒子径・ゼータ電位測定装置
測定原理: - 動的光散乱法(DLS) - 電気泳動光散乱法(ELS)
測定対象サイズ:0.3 nm ~ 15 μm
特長:微量サンプル対応・自動温度・pHトレンド測定
測定対象
アルミナ(Al₂O₃)
主な用途分野
研磨材
測定項目
粒子径分布
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