BeNano 180 Zeta を用いたシリカ懸濁液のゼータ電位測定
シリカ懸濁液(高濃度試料および30倍希釈試料)のゼータ電位を、BeNano 180 Zeta を用いて高精度に測定しました。全4種のナノシリカサンプルにおいて、良好な再現性が確認され、異なるバッチ間や配合処方の安定性比較を定量的に行えることが実証されました。
製品情報
BeNano シリーズ(BeNano 180 Zeta)
測定技術:電気泳動光散乱法(ELS)
対応サンプル:高濃度懸濁液、希釈液
安定性評価、バッチ間比較に最適
測定対象
シリカ懸濁液(4種類)
測定パラメータ
ゼータ電位
応用分野
化学材料の分散安定性評価
ナノ材料の品質管理・...
静的光散乱法によるBeNano 90 Zetaを用いた分子量測定
本アプリケーションノートでは、ポリマー標準物質を用いて重量平均分子量を測定し、Debyeプロットにより求められた結果を報告します。測定値は文献値と非常に近く、一致しており、BeNano 90 Zetaがタンパク質などの分子量評価において信頼性の高い有効なツールであることを示しています。
製品名: BeNanoシリーズ
業界分野: 化学
サンプル: ポリマー標準物質
測定項目: 分子量
測定技術: 静的光散乱(SLS)
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画像解析式粒子径・粒子形状分析装置の研磨材分野への応用
本アプリケーションノートでは、レーザー回折法と画像解析法を用いて、複数種の研磨材に対して粒子径および粒子形状分布を比較測定した結果をご紹介します。
その結果、画像解析法は粒子径測定において優れた精度を示し、特に粗大粒子の分離能力が高いことが確認されました。これにより、粒子径分布や粒子形状(円形度、縦横比など)を製造工程で正確にモニタリングすることが可能となり、製品の粒度均一性が確保され、研磨工具の性能向上にもつながります。
研磨材業界において、画像解析法は欠かせない評価手法の一つとして、品質管理や工程管理に大きく貢献します。
使用装置
BeVision S1(画像解析式粒子径・形状分...