レーザー回折法と動的画像解析の融合による研磨材の特性評価向上
粒径だけで研磨材の均一性を保証することは難しく、研磨材業界では粒子の形状も重要な品質管理項目として認識されています。Bettersizer S3 Plusは、レーザー回折法と動的画像解析を組み合わせることで、粒径と形状を同時に測定し、従来のレーザー回折装置以上の詳細な情報を提供いたします。
使用機種:Bettersizer S3 Plus
業界:研磨材
測定対象:コランダム
測定項目:粒径・粒子形状
測定技術:レーザー回折法、動的画像解析
目次
はじめに
研磨材の特性
測定技術の概要
粒径と形状の包括的評価
微細粉末中の過大粒子検出
まとめ
はじめに
研磨材と...
農薬産業におけるレーザー粒度分布測定装置の応用
レーザーアナライザーは農薬製剤を最適化し、安定した性能を発揮するために粒度分布をモニターします。詳しくはアプリケーションノートをご覧ください。
BeNano 180 Zeta を用いたシリカ懸濁液のゼータ電位測定
シリカ懸濁液(高濃度試料および30倍希釈試料)のゼータ電位を、BeNano 180 Zeta を用いて高精度に測定しました。全4種のナノシリカサンプルにおいて、良好な再現性が確認され、異なるバッチ間や配合処方の安定性比較を定量的に行えることが実証されました。
製品情報
BeNano シリーズ(BeNano 180 Zeta)
測定技術:電気泳動光散乱法(ELS)
対応サンプル:高濃度懸濁液、希釈液
安定性評価、バッチ間比較に最適
測定対象
シリカ懸濁液(4種類)
測定パラメータ
ゼータ電位
応用分野
化学材料の分散安定性評価
ナノ材料の品質管理・...