精密粉体分析の最前線を、POWTEX2025国際粉体工業展大阪で

リアル展・実機展示

BeNano 180 Zeta Max 粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置 粒子径範囲：0.3nm - 15μm 必要な最小サンプル量: 3μL 検出位置調整機能による広範な濃度対応力 pH値自動調整・温度トレンド測定可能 温度制御範囲：-15℃～120℃ 付加機能：分子量、レオロジー特性、フローモード、透過率、屈折率、濃度測定など
	Bettersizer 2600 レーザ回折・散乱式粒子径分布測定装置 粒子径測定範囲： 0.02 ～ 2,600μm（光散乱法） 2.0 ～ 3,500μm（動的画像解析法） 湿式・溶剤・乾式・微量測定対応という分散器を多数用意、切替えも容易 屈折率計算機能搭載
PowderPro A1 粉体物性総合試験機   一体型設計 高い操作性 内蔵プリンタからデータをすぐ出力 計量データの自動転送 自動制御技術 自動画像処理技術
	BeDensi T Proシリーズ タップ密度試験機   日本薬局方、USP、EP、JIS、ASTM、ISO準拠 メンブレンキーパッドで測定条件を簡単設定 最大3つのワークステーションで個別の測定が可能 ミニプリンター内蔵、試験結果を即座に取得
BetterPyc 380 真密度測定装置・ガスピクノメーター   真密度、体積、固形分、気孔率を測定可能 高精度の温度制御機能と圧力センサーを搭載 直感的なソフトウェア  少量のサンプルで測定可能

ー製品技術説明会のご案内ー

なお、POWTEX期間製品技術説明会にて、最新のDLS BeNanoシリーズをご紹介いたします。本シリーズは光散乱と透過測定を組み合わせたことで、粒子径、濃度、ゼータ電位、分子量、屈折率、レオロジー特性など、多様な物性評価を1台で高精度かつ効率的に実現します。ナノ粒子分析の新たな可能性を切り拓く本製品の特長や、様々な業界での活用事例について詳しくご紹介いたしますので、ぜひご参加ください。

• 発表テーマ：新登場DLS BeNanoシリーズ：光散乱×透過測定が拓く、粒子解析の新時代 
• 発表内容：動的光散乱法(DLS)はナノ粒子研究の核となる技術です。ベターサイズ・インスツルメンツ社の粒子径測定装置「BeNanoシリーズ」に光散乱と透過測定技術を組み合わせた新たなモデルが登場しました。本装置1台で、粒子径・濃度・ゼータ電位・分子量・屈折率・レオロジー特性といった各種物性を高精度かつ効率的に測定でき、日々の研究開発や品質管理を力強くサポートいたします。本セミナーでは、従来の機能から新機能まで測定例を交えてご紹介いたします。
• 講演者：谷川和美 
• 講演者情報：2010年より科学機器専門商社で粒子径、ゼータ電位測定などの分散評価装置の営業、アプリケーション担当を務める。標準的な原理の他、伝統法、高精度などユニークな特徴を持った装置も幅広く担当し、講演や執筆も行う。
• 発表時間：2025年10月16日（木）　　15:00〜15:30　　　Aルーム

粒子解析にご興味のある方、最新技術の動向について知りたい方は、ぜひ当社のブース・製品技術説明会までお越しくださいませ！