WCPT10大阪でBettersizeにお会いしましょう｜レーザー回折散乱法による粒子特性評価の最新動向

Bettersizeは、2026年に大阪で開催されるWCPT10-第10回粉体工学世界会議に出展いたします。

粉体・粒子分析分野における世界トップクラスの専門家が集結する本イベントで、当社は「よりスマートに、より正確に」をコンセプトとした粒子特性評価ソリューションをご提案します。研究開発から品質管理、プロセス最適化まで、あらゆる現場の課題を解決するヒントが、ここにあります。

注目製品 - ブース12

当社ブースでは、以下の先進的な製品をご覧いただけます：

BeNano 180 Zeta Max 粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置   粒子径範囲：0.3nm - 15μm 必要な最小サンプル量: 3μL 検出位置調整機能による広範な濃度対応力 pH値自動調整・温度トレンド測定可能 温度制御範囲：-15℃～120℃ 付加機能：分子量、レオロジー特性、フローモード、透過率、屈折率、濃度測定など
	Bettersizer 2600 レーザ回折・散乱式粒子径分布測定装置   粒子径測定範囲：0.02 ～ 2,600μm（湿式）；0.1 ～ 2,600μm（乾式） フーリエ・逆フーリエを組み合わせた先進的光学系 0.016°～165°までほぼ全角度にわたり合計92個の検出器を配置することで高分解能測定を実現 完全自動アライメントで操作負担を軽減 ISO 13320, 21 CFR Part 11, USP <429>, ISO 13322-2に準拠
PowderPro A1 粉体物性総合試験機   自動測定で作業効率を大幅向上 タッピング速度：50～300回／分 高い再現性（≤3%） コンパクトな一体型設計 ふるい分け分析にも対応 自動制御技術搭載

技術講演のご案内

レーザー回折・散乱法による粒子特性評価の最新動向

講演者：Pengfei Liu – Bettersize Instruments Ltd. シニアアプリケーションエンジニア
ラボ・産業・環境分野における応用

日時：2026年5月13日（水）
時間：10:30～10:45
会場：804号室

本講演では、最新のレーザー回折・散乱法による粒子解析の進展についてご紹介します。最新の光学設計とインテリジェントソフトウェアにより、研究・産業・環境分野における粒子測定がどのように進化しているのかを分かりやすくご紹介します。

Q&Aセッションでは、Pengfei Liu さんが、これらの技術が皆様の具体的な粒子解析課題にどのように応えるかを分かりやすく解説します。ぜひご参加ください。

ご来場が難しい方へ

現地参加が難しい場合でもご安心ください。

講演資料のご提供やオンライン個別相談も承っております 。

オンラインミーティングをご予約いただくか、当社ブースへお立ち寄りいただき、デモンストレーションをご体験ください。