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Elektronik und Halbleiter

Bettersize-Instrumente ermöglichen die Prüfung der Partikelgrößenverteilung und Partikelformprüfung der Rohmaterialien elektronischer Produkte.

 

In der Elektronikindustrie stellen viele Materialien und Prozesse strenge Anforderungen an Partikelgröße und Partikelform. Beispielsweise erfordert das zum Schneiden von Siliziumwafern verwendete Siliziumkarbidpulver eine enge Partikelgrößenverteilung und einen scharfen Eckwinkel der Partikelform, das zum Polierne verwendete Ceroxid-Schleifmittel benötigt eine kleine Partikelgröße ohne große Partikel, und die zum Abdichten integrierter Schaltkreise verwendeten Siliciumdioxidmaterialien erfordern strenge Standards für die Partikelgrößenverteilung und den Kugelgrad. Die Analyse von Partikelgröße und Partikelform ist eine grundlegende Produktionsmethode und Produktqualitätsgarantie in der Elektronikindustrie.

 

Bei der Forschung, dem Design, der Herstellung und der Qualitätskontrolle elektronischer Komponenten kann Ihnen das Partikelgrößen- und Partikelformanalysesystem von Bettersize dabei helfen, Materialeigenschaften zu erkennen, darunter:

  • Gewährleistung der Qualität von CMP-Pasten.
  • Gewährleistung der Partikelgröße und Partikelform beim Mahlen zum Schneiden und Polieren.
  • Gewährleistung der Qualität von Dichtungsmaterialien für integrierte Schaltkreise.
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