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BeVision M1

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BeVision M1は、0.3~10,000 μmの粒子径および粒子形状を高精度に分析する装置です。自動スキャンと自動焦点調整機能により、BeVision M1は高画質な粒子画像をキャプチャし、隣接する複数の画像をシームレスに広視野画像として合成します。これにより、粒子の微細なディテールを損失なく記録・分析できます。搭載されているBeVisionソフトウェアは、粒子径および粒子形状を34種類の項目から評価し、粒子の全周囲検証を実現します。これにより、粒子の特性をより詳細かつ包括的に把握できる分析結果を提供します。

機能と利点

  • 測定範囲:0.3 - 10,000 µm
  • ISO 9276-6に準拠
  • 高い再現性
  • 1200万画素高速CMOSカメラを搭載
  • 使いやすいソフトウェア
  • 自動スキャンと自動焦点調整機能による利便性向上
  • 粒子径と形状の34種類のパラメータを高精度に解析
  • 表面清浄度評価と欠陥検査をサポート

ビデオ

How to Install and Operate BeVision M1 Video play

What is Image Analysis? Fundamentals of BeVision Series Video stop

Overview of BeVision Series | Precision in Particle Vision Video stop

概要

厳選されたリソース

その他の資料

関連イメージアナライザー

  • Bevision-S1 Classical and Versatile Static Image Analyzer

    BeVision S1

    クラシックな粒子画像分析装置

    乾式および湿式測定対応

    測定範囲:0.3〜4,500μm

    測定原理:静的画像解析

  • BeVision D2

    BeVision D2

    動的画像解析装置

    分散方式:乾式

    測定範囲:3.5 ~ 13,000 μm

    測定原理:動的画像解析法

  • Bettersizer S3 Plus

    Bettersizer S3 Plus

    粒子径・粒子形状分析装置

    測定範囲:0.01~3,500μm(レーザ回折・散乱法)

    測定範囲:2~3,500μm(動的画像解析法)

  • Bettersizer 2600

    Bettersizer 2600

    あらゆるニーズに応える粒子解析装置

    測定範囲:0.02~2,600μm(湿式分散)

    測定範囲:0.1~2,600μm(乾式分散)

    測定範囲:2~3,500 μm(動的画像解析)