Bettersizer S3 Plusは、レーザー回折法と動的画像解析を一体化した先進的な粒子測定装置です。0.01μmから3500μmの範囲で粒子の粒径分布および形状特性を高精度に測定することが可能です。超微粒子や粗大粒子に対する卓越した検出感度と分解能を兼ね備えており、粒径および形状解析の最適解を提供します。
機能と利点
- ● 測定範囲：0.01～3,500μm（光散乱法）、2～3,500μm（画像解析法）
- ● レーザー回折法と動的画像解析を統合した革新的な設計により、粒子径分布と形状特性を同時に取得可能
- ● 特許取得済みDLOI技術（Dual Lenses & Oblique Incidence）を採用し、0.01μmの超微粒子測定を実現
- ● デュアルカメラシステムにより、粒子画像をリアルタイムで表示し、3,500μmまでの粗大粒子を高感度に検出
- ● 屈折率測定機能により未知試料の屈折率を高精度に解析し、結果の信頼性を向上
- ● 21 CFR Part 11、ISO 13320、USP <429>、CEに準拠
