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DLS後方散乱技術を理解する

ナノ粒子のサイズと分布は、動的光散乱（DLS）で測定できます。ナノ粒子によって散乱された光は、さまざまな角度で検出されます。入射レーザービームに向かって戻って検出された光は、「後方散乱」または「後方角度」という用語で表されます。

このビデオでは、DLS後方散乱技術について知っておくべきことをすべてご紹介します。Bettersizeのアプリケーションエンジニア、Zhibin GuoがDLS後方散乱技術の紹介と、ナノ粒子サイズ測定の特徴と利点を説明します。Bettersize InstrumentsのBeNanoシリーズは、3つの角度（12°、90°、173°）で粒子径を測定するため、幅広い粒子サンプルの種類、サイズ、濃度の分析が可能です。

BeNano シリーズ - ナノ粒子径・ゼータ電位分析装置を選ぶ理由

- 粒子径のための動的光散乱

- 電気泳動光散乱法によるゼータ電位測定

- 静的光散乱法による分子量測定

- DLSマイクロレオロジーによるレオロジー特性の測定

独自のメリット

- 後方散乱検出による高感度化

- 電気泳動移動度の低いサンプル用の相分析光散乱

- pHトレンド測定用BAT-1自動滴定装置

BeNano 180 Zeta Pro