BeVision D3 시리즈는 동적 이미지 분석(DIA, Dynamic Image Analysis) 기술을 기반으로 한 완전 자동화 입도·입형 분석 시스템으로, 정밀하고 신뢰성 높은 입자 분석 데이터를 제공하여 연구 개발부터 품질 관리까지 폭넓게 활용됩니다.
특징 및 장점
- ● 0.5 μm - 26 mm의 넓은 측정 범위 지원
- ● 37개 이상의 다양한 입도 및 입형 분석 항목 제공
- ● 약 3분의 빠른 측정 시간으로 높은 분석 효율 실현
- ● 미세한 입도 분포 차이까지 정확하게 분석하는 고해상도 성능
- ● ISO 13322-2 및 ISO 9276 국제 표준 준수
- ● 측정부터 결과 분석까지 편리한 완전 자동화 운영
- ● 강력한 분석 소프트웨어를 통한 종합적인 입자 특성 평가
- ● 체분석(Sieve Analysis)과 높은 일치성을 갖는 분석 결과 제공
