BeNano시리즈

BeNano 시리즈는 총 7개 모델로 구성된 최신 나노입자 분석 시스템으로, 광산란(Light Scattering) 및 투과(Transmission) 기술을 기반으로 다양한 분석 기능을 하나의 플랫폼에 통합하였습니다. 입자 크기, 입자 농도, 제타전위, 분자량, 굴절률 및 유변학적 특성 등 나노 소재 분석에 필요한 다양한 정보를 하나의 장비로 측정할 수 있습니다.

특징 및 장점

• ● 입도 측정 범위: 0.3nm - 15μm

• ● 최소 시료량: 3 μL

• ● 고감도 APD(Avalanche Photodiode) 검출기 적용

• ● 레이저 출력 자동 조절 기능

• ● 지능형 데이터 분석 알고리즘 적용

• ● DLS 후방 광산란(173°) 측정 기술 적용

• ● 고농도 시료 분석을 위한 측정 영역 조절 기능

• ● 위상 분석 광 산란(PALS)기술로 제타 전위 측정

• ● 온도 범위: -15 ℃ ~ 120 ℃

• ● 21 CFR Part 11, ISO 22412, ISO 13099 준수