Каковы преимущества и недостатки полупроводникового лазера?

При лазерном дифракционном анализе размеров частиц неточные результаты могут быть вызваны агломерацией частиц в суспензии, особенно если они мелкие. Поэтому перед измерением необходимо полностью диспергировать образец.

Образцы, которые либо растворяются, либо агломерируются во влажной среде, либо вступают в реакцию с ней, обычно анализируются методом сухой дисперсии.

Под обскурацией понимается доля света, рассеянного и поглощенного частицами в зоне измерения, что указывает на концентрацию суспензии.

Перед анализом образца необходимо провести фоновое измерение. Фоновое измерение состоит из оптических и электрических сигналов.

Коэффициент преломления характеризует степень изгиба световых лучей при переходе из одной среды в другую. Коэффициент поглощения - это мера проникновения светового луча через материал.

Причины аномальных фоновых сигналов различны. Исключение аномальных фоновых сигналов должно начинаться с проверки ячейки для образца, затем лазерного источника и линзы, и, наконец, системы юстировки.